PG150-PC激光平面干涉儀

一．儀器特點

主要用于平面類光學元件檢定和校準光學平晶（包括玻璃、金屬、陶瓷等），配備高精度的成像系統和圖像采集系統，精密平面標準鏡等一系列高精技術，通過優化光學系統和機械系統結構，可實現高精密平面光學元件的測量。

二．工作條件

1. 適用于在電源220V（10%）/50Hz、氣溫攝氏5℃～30℃和相對濕度低于75%的環境條

件下運行。

2. 建議安放在防震工作臺上，環境清潔。

三．技術規格

1. 測量方式：菲索干涉原理

2. 有效口徑：150mm

3. 標準鏡材料：石英 康寧7980

4. 連續變倍：固定倍率

5. 顯示方式：電腦軟件或獨立顯示器

6. 平面標準鏡：精度PV ≤λ/20

7. 光   源：半導體激光 635nm

8. 儀器尺寸：40cm x 40cm x 90cm

9. 儀器重量：75kg     電 源：AC100-240V 50/60Hz

     10.  標配含（專用干涉儀軟件）